HY-XR5010(2.5D)シリーズは、ICパッケージ、BGA/QFNチップ、PCBA、コンデンサなどの非破壊検査に対応しています。CNCモーション、多角度イメージング、ワンクリックボイド解析機能を搭載し、ボイド、はんだ不良、寸法誤差を検出します。3つのモデルは、小ロット検査、生産サンプリング、ラボでの研究開発に最適です。オプションのバーコードトラッキング機能と高解像度検出器により、4μmという微細な欠陥も検出可能です。完全密閉型の鉛遮蔽により放射線量を1μSv/h未満に抑え、公式の放射線安全認証を取得済みです。
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