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タンタル・アルミコンデンサ試験・選別機

HY-CS3025半導体ハンドラーは、チップ型タンタルコンデンサおよび多層アルミコンデンサの目視検査、電気的性能試験、および完成品のパッケージングに特化しています。

  • ブランド :

    HYRNUS
  • 商品番号 :

    HY-CS3025
  • 注文(最小注文数量) :

    1 Set
  • 保証 :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • 支払い :

    T/T
  • リードタイム :

    7-35 Days
  • 製品の原産地 :

    China
  • タンタル・アルミコンデンサ試験・選別機

    製品紹介

    HY-CS3025 テスト&選別機 テープ供給とバルク供給に対応し、成形、AIによる画像検査、高精度電気性能試験、完成品のテープ巻きを1つのプラットフォームに統合しています。輸入DDモーターを搭載した標準タレットを採用し、±0.01 mmの位置決め精度と最大60K UPHを実現しています。静電容量試験は高い再現性と優れた絶縁性能を提供します。AIビジョンシステムは、50 μm以上の精度で多面検査をサポートし、インダストリー4.0データシステムと連携してエンドツーエンドの完全なトレーサビリティを実現します。

    主要な試験および環境機能

    モジュール設計により、ワンクリックで切り替えが可能で、家電製品、車載エレクトロニクス、その他の分野にも対応できます。検査精度は97%以上で、生産ラインの品質と効率を向上させると同時に、運用コストと不良関連コストの削減に貢献します。

    sorting machine

    アプリケーションシナリオ

    チップ型タンタルコンデンサや多層アルミコンデンサの試験を含みますが、これらに限定されません。特別なご要望についてはお問い合わせください。.

    技術仕様

    アイテム仕様
    モデルHY-CS3025
    チップのパッケージサイズケースA、B、C、Dなど
    入力形式バルク
    出力形式テープ&リール(T&R)
    機器 UPH≥ 14K(リーク電流充放電時間≤ 48秒)
    主なテスト項目静電容量と損失係数、ESR、漏洩電流、残留電圧
    前面と背面の検査検査精度 > 50 µm、コントラスト > 30 で検出可能。欠陥の種類: ぼやけたラベル (混合コンポーネント)、傷、ピンホール、欠け、コアの欠落、亀裂、汚染、リードの変形、リードの浮き上がり、リードの長さの過不足、鉛銅の露出、リードの溢れ、リードのバリ、エッジのへこみ、スズウィスカなど。
    機器の寸法2100 mm(長さ)× 1500 mm(幅)× 2000 mm(高さ)

    製品詳細

    chip sorter

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お問い合わせ :allen@hyrnus.com