HY-TM200 半導体冶金計測顕微鏡 光学観察、デジタル画像処理、精密測定を組み合わせたシステムです。明視野および暗視野検査に対応し、位置決め精度は±0.1μmまでです。金球、ワイヤーループ、ICパッケージ、プリント基板（PCB）などの電子部品の品質管理や研究開発用途における測定に適しています。
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