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HY-TM200 半導体冶金計測顕微鏡 光学観察、デジタル画像処理、精密測定を組み合わせたシステムです。明視野および暗視野検査に対応し、位置決め精度は±0.1μmまでです。金球、ワイヤーループ、ICパッケージ、プリント基板（PCB）などの電子部品の品質管理や研究開発用途における測定に適しています。
ブランド :
HYRNUS商品番号 :
HY-TM200注文（最小注文数量） :
1 Set保証 :
One-Year Warranty and Lifetime Maintenance支払い :
T/Tリードタイム :
7-35 Days製品の原産地 :
ChinaICパッケージ検査用半導体冶金測定顕微鏡
製品紹介
HY-TM200 半導体冶金計測顕微鏡 本装置は、半導体パッケージ、IC、プリント基板、および電子部品の高精度検査と寸法測定用に設計されています。光学観察、デジタル画像処理、および測定機能を1つのコンパクトなシステムに統合し、研究室および生産現場での用途に対応します。
無限光学系、明視野・暗視野観察モード、高解像度産業用CCDイメージングを搭載したこの顕微鏡は、鮮明な画像と正確な測定結果を提供します。位置決め精度は±0.1μmまでで、長さ、角度、半径、高さなど複数の測定機能を備えているため、半導体品質管理、故障解析、研究開発に最適です。様々な検査要件に対応できるよう、カスタマイズ可能な治具もご用意しています。
製品仕様
| アイテム | 詳細 |
| モデル | HY-TM200 |
| 寸法 | 700 x 800 x 800 mm |
| 重さ | 85kg |
| ガラスの寸法 | 230 x 160 mm |
| ステージ寸法 | 358 x 258 mm |
| 旅行範囲 | 200 x 100 x 150 mm |
| 回折格子スケール解像度 | Z軸：±0.1 µmXY軸:±0.5 µm (オプション)±0.1 µm） |
| 光学系 | 無限焦点距離光学系 |
| 動作タイプ | マニュアル |
| 目的 | 5倍、10倍、20倍、50倍 |
| 接眼レンズ | 10倍 |
| 視野 | 反転画像 |
| 観察方法 | 明視野モードと暗視野モードを自由に切り替え可能 |
| 水面／底面光源 | 3W LED同軸照明 |
| XYZ位置決め精度 | ±0.1 µm |
| XYZ再現性 | ±0.1 µm |
| XY測定精度 | (3 + L/100) µm (L = 測定長さ) |
| Z測定精度 | (3 + L/25) µm (L = 測定高さ) |
| 表示機能 | RS232出力、XYZゼロ点調整／センタリング、ヤード・ポンド法／メートル法変換、精度校正 |
| Z軸コントローラー | 垂直方向の動きを制御するための高精度同軸ホイール |
| Z軸位置決め精度 | ±0.1 µm |
| 動作電圧 | AC 220V |
| 定格電力 | 100W |
主な機能
| いいえ。 | 詳細 |
| 1 | 金球の直径測定（長さ測定） |
| 2 | 金球の厚さ測定（角度測定） |
| 3 | 金線アーク測定（半径測定） |
利点
| アイテム | 詳細 |
| 多用途光学部品 | 国内外の光学部品に対応し、明視野、暗視野、微分干渉コントラスト（DIC）、偏光、落射蛍光モードをサポートします。 |
| 目標砲塔 | 最大5個の対物レンズを搭載でき、倍率は5倍、10倍、20倍、50倍、100倍から選択可能で、様々な用途に対応できます。 |
| イメージングシステム | 産業グレードのカラーCCDカメラを搭載しており、ズームレンズを通して高画質の画像を撮影し、それを電子信号に変換してコンピュータに送信し、解析を行います。 |
| 人間工学に基づいたデータ表示ユニット | 角度調整機能を備え、独立して操作できるように設計されているため、立位でも座位でも快適に測定できます。高精度な校正のためのゼロ点調整機能とセンタリング機能をサポートしています。 |
| 精密リードスクリュードライブ | ステンレス鋼製のリードスクリューとナット駆動方式を採用し、高速かつ微調整が可能で、測定効率を向上させます。安定した構造によりステージの振動を低減し、より正確な位置決めを実現します。 |
製品詳細
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