チップコンデンサの目視検査用テスト＆選別機

HY-CS3021 テスト＆選別機チップコンデンサ（SLC、アレイコンデンサ、MLC、シリコンコンデンサなど）のこれらの機能に特化しています。小型半導体部品の大規模生産における高精度、高互換性、インテリジェント化の要求を満たし、チップコンデンサの出荷品質と生産効率を向上させるための重要な装置です。

HY-CS3021検査・選別機は、自由に構成可能な構造とモジュール式の消耗部品を備えた完全モジュール式アーキテクチャを採用し、迅速な切り替えと多仕様製品の切り替えに対応します。従来の成熟したアルゴリズムとAI検査技術、CCDオートフォーカスを統合することで、5μm以上の認識精度を実現し、2面/6面の外観検査に対応し、電極の酸化、傷、角の欠けなどの欠陥を正確に検出します。

アプリケーションシナリオ

単層チップコンデンサ（SLC）

多層チップコンデンサ（MLC/MLCC）

シリコンキャパシタ

RCネットワーク

アレイチップコンデンサ

技術仕様

アイテム	仕様
モデル	HY-CS3021
製品サイズ	0.2mm × 0.2mm ～ 10mm × 10mm
入力フォーマット	バルク／ウェハー
出力フォーマット	ワッフルパック／ジェルパック／ウエハース
機器 UPH	≥ 5K（テスト時間 ≤ 200 ms）
主なテスト項目	静電容量、損失係数、絶縁抵抗、耐電圧
ワッフルパックの配置精度	片側間隔≧0.03mm、留置成功率＞96%
青色テープの配置精度	±25 µm; ±1°
目視検査	検査精度 > 5 µm、コントラスト > 30で検出可能。検出可能な欠陥: 傷、摩耗、めっきの欠落、めっきの過剰、カール、剥離、へこみ、凹み、変色、汚染、欠け、電極位置のずれなど。
機器の寸法	1500 mm（長さ）× 1300 mm（幅）× 1900 mm（高さ）

製品詳細